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FIB-SEM-Ar“三束“系统
FIB-SEM-Ar“三束“系统FIB-SEM-Ar“三束“系统/日立最新双束FIB系统 NX2000(图1)可以通过对已经加工好的样品再用Ar+离子束进行加工,达到更好的加工效果 。
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TESCAN-S8000X-brochure
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GAIA3 Ga离子双束扫描电镜(FIB-SEM)
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TESCAN-S9000X-brochure-2018
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TESCAN-S9000-brochure
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TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3
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蔡司双束电镜 Crossbeam系列350/550
蔡司双束电镜 Crossbeam系列350/550 FIB-SEM
来源:卡尔蔡司(上海)管理有限公司 资料
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